abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡

適用于活細(xì)胞超分辨率的自適應(yīng)STED照明

多種自適應(yīng)照明技術(shù)模塊(RESCue、DyMIN、MINFIELD)

通過(guò)智能識(shí)別樣品區(qū)域和背景區(qū)域，減少甚至取消STED損耗光的照射，進(jìn)而降低光漂白和光毒性多達(dá)2個(gè)數(shù)量級(jí)

使用MINFIELD掃描，在活細(xì)胞成像中分辨率可低至20nm配合easy3D，可輕松實(shí)現(xiàn)STED三維超分辨成像到75x75x75nm

abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡自適應(yīng)照明

激光只在真正對(duì)成像有作用時(shí)才照射樣品，幾乎沒(méi)有光漂白。

脈沖門(mén)控STED

在Facility Line的STED超分辨成像中，激光都是脈沖的，不管是激發(fā)激光，還是損耗激光。相比于傳統(tǒng)的連續(xù)STED，全新的脈沖門(mén)控STED可以只用原來(lái)1/12的STED損耗光照射，就達(dá)到同樣的分辨率。這是因?yàn)閭鹘y(tǒng)的連續(xù)STED，在收集熒光的時(shí)間窗口之外，仍在毫無(wú)意義地照射樣品。

輕松實(shí)現(xiàn)3D STED(easy3D STED模塊)

3DSTED分辨率可達(dá)75x75x75nm;深度可達(dá)80μm

空間光調(diào)制器(SLM)在同一條短程光路上快速調(diào)制XY和Z方向STED成像，無(wú)需復(fù)雜低效的拆分和重耦過(guò)程，保證超高質(zhì)量的光學(xué)穩(wěn)定

空間光調(diào)制器(SLM)可以靈活分配所需XY和Z方向上的STED量

自適應(yīng)光學(xué)矯正光學(xué)誤差，深層厚樣品中輕松實(shí)現(xiàn)超高分辨率成像

匹配油鏡、水鏡和硅油鏡頭

·DyMIN、RESCue適于更長(zhǎng)時(shí)程或更厚3D樣品的超分辨成像

更清晰的STED和共聚焦圖像

MINFIELD STED

集中在更小的視野(比如200x200nm)，用更高功率的STED激光，做更精細(xì)的掃描

分辨率可達(dá)<20nm!

4鏡光束掃描系統(tǒng)

無(wú)掃描透鏡設(shè)計(jì)，降低光路形變和損耗4鏡獨(dú)立可調(diào)，保證大視野范圍內(nèi)同等光斑質(zhì)量高精準(zhǔn)線性齒狀掃描方式和高速度正弦掃描方式超高速激光開(kāi)關(guān)精確控制掃描轉(zhuǎn)換折角激光開(kāi)關(guān)，保護(hù)樣品

彩虹檢測(cè)通道

每個(gè)APD配有雙漸變?yōu)V鏡可以在400-800nm范圍內(nèi)選擇任意波長(zhǎng)成像，檢測(cè)帶寬10nm，步進(jìn)1nm高效阻止雜散光、高熒光透過(guò)率配合APD檢測(cè)器可以獲得高光譜精度和高信噪比的圖像

極其友好的操作，比共聚焦還簡(jiǎn)單

EXpertLine 除了可實(shí)現(xiàn)Facility Line的全部功能外,還能根據(jù)不同用戶需要定制化各種特殊的軟硬件功能。

正置型的Expert Line easy3D STED顯微鏡

利用lmspector軟件中的easyCommander圖形交互界面方便地為用戶各種特殊復(fù)雜實(shí)驗(yàn)進(jìn)行方便地定制

熒光偏振成像

利用Expert Line開(kāi)發(fā)了熒光偏振各向異性成像和測(cè)量的全電動(dòng)化升級(jí)版

可在Expert Line基礎(chǔ)上整合RESOLFT超高分辨率點(diǎn)掃描系統(tǒng)(可轉(zhuǎn)換綠色熒光蛋白 GFPS)

產(chǎn)品參數(shù)

激發(fā)激光

405(連續(xù))、440、488、516、561、594、640nm，40MHz 皮秒脈沖激光可選

STED 激光

775nm 標(biāo)準(zhǔn)功率型 1-1.25W@40MHz，AOM 調(diào)控;高功率型 2750mW@40MHZ，AOM 調(diào)控,成像分辨率<30nm，最高可以達(dá)到 20nm

595nm功率 400mW@40MHz，AOM 調(diào)控，成像分辨率<40nm

顯微鏡

全電動(dòng)倒置熒光顯微鏡;6孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)盤(pán);電動(dòng)聚焦精度10nm;傾角可調(diào)目鏡觀察筒;手動(dòng)聚光鏡;液晶觸控面板;電動(dòng) XY 掃描臺(tái);壓電Z軸掃描器移動(dòng)范圍 200um，精度 0.7nm;寬場(chǎng) LED 熒光照明,405nm/470nm/590nm/635nm;寬場(chǎng)1280x9601/2英寸CCD，定制紅外Z軸防漂移裝置,人機(jī)工學(xué)嵌入式主動(dòng)防震臺(tái)

成像和掃描單元

手選物鏡，可選60x水(NA1.2)、100x油(NA1.4)或100x硅油(NA1.3)物鏡，匹配 STED 光斑標(biāo)準(zhǔn)配置2個(gè) APD 檢測(cè)器，最多可升級(jí)至4個(gè)APD 檢測(cè)器，每個(gè) APD 配有獨(dú)立彩虹光譜檢測(cè)套裝保證低損，無(wú)背景，可變光譜檢測(cè)

的4鏡掃描(QUAD-scanner)光路設(shè)計(jì),任何掃描視野都保持理想激發(fā)和同心圓 STED 光斑

共聚焦部分

脈沖激光結(jié)合高速、高量子效率光子計(jì)數(shù)級(jí) APD 成像，門(mén)控檢測(cè)。16 檔電動(dòng)針孔轉(zhuǎn)輪

STED 超分辨率部分

像操作共聚焦顯微鏡一樣，單次掃描可以直接呈現(xiàn)清晰的超分辨圖像全自動(dòng)全光路校正模塊，日常維護(hù)，對(duì)所有激光共聚焦、STED光路及針孔對(duì)中時(shí)間<2分鐘Easy3DSTED 模塊通過(guò)空間光調(diào)制器(SLM)調(diào)控 2D-3DSTED 光斑分配和質(zhì)量，單光路同軸產(chǎn)生 3DSTED 光斑

2D-STED 分辨率<30x30nm;3D-STED分辨率<100x100x100nm，可達(dá)75x75x75nm

光學(xué)自適應(yīng)部分(AdaptiveOptics)

空間光調(diào)制器(SLM)用于2D-3DSTED光學(xué)誤差校準(zhǔn)，DeformableLens用于全系統(tǒng)光學(xué)誤差校正RESCue 智能照射模塊，基于共聚焦預(yù)掃，非樣品區(qū) STED 光照劑量大幅降低，大大降低漂白DyMIN 智能照射模塊，基于 RESCue 信息，產(chǎn)生中間分辨率預(yù)掃，進(jìn)一步減少 STED 的光劑量同時(shí)增強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度約一個(gè)數(shù)量級(jí)，同時(shí)分辨率可達(dá)25nm(2D)(取決于標(biāo)本和染料)MINFIELD 小視野精細(xì)掃描模式，在 200nmx200nm 范圍內(nèi)分辨率可達(dá)20nm(2D)(取決于標(biāo)本和染料)

STED 用熒光染料

可提供 Abberior STAR 和 LIVE 系列熒光染料，具備高熒光量子產(chǎn)率、高信噪比和抗淬滅性

軟件

極簡(jiǎn)化軟件操作，高度自動(dòng)化的設(shè)置引警使用戶不用操心非必要參數(shù)逐級(jí)開(kāi)放允許高級(jí)用戶控制